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MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA
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DeCS
Descritor
Inglês
:
Microscopy, Scanning Probe
Descritor
Espanhol
:
Microscopía de Sonda de Barrido
Descritor
Português
:
Microscopia de Varredura por Sonda
Sinônimos
Português
:
Microscopia de Varredura por Microsonda
Categoria:
E01.370.350.515.666
E05.595.666
Definição
Português
:
Microscopia
de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma
propriedade
particular relacionada com a superfície. Quando esta
propriedade
é a
topografia
local, o método é
MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA
e quando é a condutividade local, o método é
MICROSCOPIA DE TUNELAMENTO
.
Qualificadores Permitidos
Português
:
CL
classificação
EC
economia
SN
estatística & dados numéricos
HI
história
IS
instrumentação
MT
métodos
ST
normas
TD
tendências
UT
utilização
VE
veterinária
ES
ética
Número do Registro:
34522
Identificador Único:
D020527
Ocorrência na BVS
:
Similar:
DeCS
CID-10
SciELO
LILACS
LIS